- Rastrovací elektronový mikroskop (SEM) Zeiss EVO15 s energiově disperzním (EDX) analyzátorem
- Stereomikroskop s příslušenstvím Olympus SZX
- Digitální mikroskop Olympus DSX 510
- Mikroskop atomárních sil (AFM) AIST-NT SmartSPM 1000 s Kelvinovou sondou (SKPFM)
- Rastrovací Kelvinova sonda (SKP) Wicinski-Wicinski pro elektrochemická měření za atmosférických podmínek
- Analyzátor elementárního vodíku, dusíku a kyslíku v materiálech metodou fúze v inertním plynu, Bruker G8 Galileo
- Jiskrový optický emisní spektrometr Bruker Q4 Tasman pro přesné analýzy prvkového složení kovových materiálů
- Trhací stroj UTS-E50 pro stanovení mechanických vlastností materiálů v tahu, tlaku a ohybu a odtrhové zkoušky s maximálním zatížením 50 kN
- Potenciostaty Biologic SP-200 pro elektrochemická měření včetně metody elektrochemické impedanční spektroskopie
- Termický analyzátor Setaram Evo TGA/DTA
- Spektrofotometr pro oblast UV-Vis Shimadzu UV-2600
- Infračervený a Ramanův spektrometr Nicolet iS50
- Disperzní Ramanův spektrometr DXR2 Smart Spectrometer
- Optický emisní spektrometr s indukčně vázaným plazmatem Agilent 5100 ICP-OES
- XRF spektrometr Xenometrix Genius IF
- Spektrometr Z-300 LIBS
- Index toku taveniny (extruzní plastometr)
- Analyzátor tepelné vodivosti
Naše přístroje
Aktualizováno: 22.3.2023 01:36, Autor: Jan Prošek
